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微纳加工实验室:聚焦离子束显微镜(FIB)北京软件质检中心

产品价格1500.00元/小时

产品品牌FEI

最小起订≥0.5 小时

供货总量1000000 小时

发货期限自买家付款之日起 1 天内发货

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企业旺铺https://icfa.jcfairs.com/

更新日期2020-08-30 16:46

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商品信息

基本参数

品牌:

FEI

所在地:

北京

起订:

≥0.5 小时

供货总量:

1000000 小时

有效期至:

长期有效

精度:

微纳米

倍率:

10万

导电性:

良好
详细说明

双C资质的北京软件产品质量检测检验中心微纳加工实验室,为您带来微纳加工FIB聚焦离子束显微镜介绍,欢迎深度沟通。


聚焦离子束显微镜FIB设备技术指标:

1、电子束电流范围:1 pA - 400 nA;

2、电子束电压:200eV-30 keV,具有减速模式

3、电子束分辨率:0.7 nm (30 keV)、1.4 nm(1 keV)

4、大束流Sidewinder离子镜筒;

5、离子束加速电压500V-30kV(分辨率:3.0 nm);

6、离子束束流1.5pA-65nA,15孔光阑。


什么是聚焦离子束显微镜FIB:

FIB(聚焦离子束,Focused Ion beam)是将液态金属离子源产生的离子束经过离子枪加速,聚焦后照射于样品表面产生二次电子信号取得电子像,此功能与SEM(扫描电子显微镜)相似,或用强电流离子束对表面原子进行剥离,以完成微、纳米级表面形貌加工。


聚焦离子束显微镜FIB服务范围:

半导体、金属、陶瓷材料微纳加工及观察分析,成分分析,工业和理论材料研究,半导体,数据存储,自然资源等领域。


聚焦离子束显微镜FIB配置情况:

1、GIS气体注入:Pt沉积

2、ETD SE、T1(筒内低位)、T(高位)探头

3、Nav-camTM:样品室内光学导航相机

4、AutoTEM4、Autoslice、Map for3D自动拼图、NanoBuilder纳米加工软件。


聚焦离子束显微镜FIB设备简介

FEI Scios 2 DualBeam系统在Scios系统的基础上进行了升级,更加适用于金属、复合材料和涂层,特点是适用磁性样品、借助漂移抑制对不导电的样品可以进行操作、Trinity检测套件可同步检测材料、形态和边缘对比对度,大大提高效率、软件可以实现三维数据立方体分析金属中夹杂物大小和分布、独有的工作流模式,可以设定程序,降低操作员的难度。在超大样品仓中集成了大尺寸的五轴电动样品台,XY轴具有110mm移动范围,Z方向具有85mm升降空间。



北京软件质检中心微纳加工实验室,专业的软件芯片第三方检测机构,欢迎沟通合作!

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